MentorのDFTツールでISO 26262に対応したルネサスとセル内部の故障検出を実現したOpen-Silicon
2013年9月11日、Mentor Graphicsは、ルネサス エレクトロニクスおよび米ファブレス、Open-Siliconの2社による同社製品「Tessent TestKompress」の採用事例を発表した。
発表によるとルネサスは、車載電子システムにおける安全基準の国際規格ISO 26262のテスト要件に対応するために、Mentorの「Tessent Hybrid TestKompress/ LogicBIST」ソリューションを採用。同ソリューションは高圧縮ATPG（スキャンテスト）とBIST（組込み自己テスト）の両テスト手法に統合的に対応するハイブリッド・ソリューションで、テスト品質の向上を実現。ルネサスの担当者はその採用理由として、テスト品質の向上と合わせて、テスト容易化設計フローの簡素化、テスト回路面積の削減、開発期間の削減を挙げている。
もう一方のOpen-Siliconは、SoCの標準セルの境界にある故障だけでなく、セル内部の故障も検出できるテストを必要とし、MentorのATPGツール「Tessent TestKompress」を採用。同ツールを用いる事により、テスト・コストを大幅に増やす事無く既存ソリューションでは不可能だったセル内部の故障検出を実現できたとしている。また同社は組込みメモリ向けのBISTツール「Tessent MemoryBIST」も導入しており、同ツールを併用することで製品の信頼性を更に高めていく予定だという。
= EDA EXPRESS 菰田 浩 =
（2013.09.12
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