Mentor、テスト品質の改善に向けてユーザ定義故障モデルとセル対応ATPGを用意

2011年9月20日、Mentor Grapphicsは、同社のDFTツール「Tessent TestKompress」および「Tessent FastScan」の新機能を発表した。

今回の両製品の新機能の中心となるのは、Mentorが新たに開発した「ユーザ定義故障モデル（UDFM）」とそれを用いたセル対応ATPG機能で、これらを活用することで従来手法では検出の難しかった標準セル内の欠陥を検出可能になる。

「UDFM」は、Mentorの「Calibre」および「Eldo」を用いた1回のセルライブラリのキャラクタライゼーションで生成でき、ユーザーはその作業をMentorに依頼することも可能。（コンサルティング・サービスとして）「Tessent TestKompress」は、生成された「UDFM」を用いてセル内の欠陥をターゲットとしたパターンを自動生成可能で、「Tessent FastScan」を用いてセル対応ATPGを実行できる。