MentorとARMが共同で組込みメモリのテスト及び修復ソリューションを開発

2010年11月4日、メンター・グラフィックスは、ARMと協力してARMの組込みメモリおよびプロセッサ・コア向けに自動化された、メモリテストおよび修復ソリューションを提供すると発表した。

発表されたメモリテストおよび修復ソリューションは、メンターの提供する組込みメモリのテスト、診断、修復ツール「Tessent MemoryBIST」により実現されるもので、具体的にはARMコアが備えているメモリの外部アクセス用メモリBISTバスおよびインタフェース、ARMのメモリ・コンパイラ機能を「Tessent MemoryBIST」がサポート。これにより、ARM組込みメモリに対して「Tessent MemoryBIST」のテスト、診断、修復ソリューションを容易に活かせるようになるという。

「Tessent MemoryBIST」は、メンターが昨年買収を完了した旧LogicVision社の主力製品をベースとした製品。今回のARMとメンターの協力により、BIST技術で定評のあるソリューションがARM向けに最適化された形で利用できるようになる。