シノプシス、テストパターン自動生成ツールTetraMAXを機能強化

2005年11月8日、シノプシスは、テスト・ソリューションTetraMAXの機能改善を発表した。

プレスリリース：http://www.synopsys.co.jp/pressrelease/2005/20051108.html

機能強化された新しいTetraMAXは、従来バージョンに比べて、すべての設計スタイルでATPGの処理速度が標準的に4倍以上に向上。さらに高いテスト品質を短期間で実現できるようになる。

また、新たな波形デバッガが搭載され、テスト設計のルール違反の検出とテスト・プロトコルのデバッグをさらに効率的に行うことが可能となった。

これらの機能強化により、複雑なデザインに対するテスト品質の向上と、製造故障検出の効率化に対応することができ、自動テストパターン生成（ATPG）およびテストのデバッグ作業に要する時間を劇的に短縮できるという。

■株式会社 ルネサステクノロジ　設計技術統括部　システム設計技術開発部 部長 多田修氏のコメント：
「テストパターン生成を効率的に行うことにより、我社の最先端SoCおよびマイクロコントローラ・ソリューションを提供するために要する時間と労力を最小限に抑えることが可能となります。今回の大幅なATPG実行時間の短縮が我社の製品の量産までの期間をさらに短縮してくれると大きな期待を寄せています。」

■Tundra Semiconductor社 DFTマネージャーのBruno Latulippe氏のコメント：
「TetraMAX ATPGの最新バージョンを使ってtransition delay testを行った際に、2004.12バージョンに比べ処理速度が6倍向上したことを確認しました。製品の複雑性が増す中、このようなATPG実行時間の劇的な短縮により、At-speedの動作テストの実行を迅速化することができると期待しています。」

※Tundra Semiconductor社は、世界を代表するコミュニケーション・システムおよびストレージ・システム企業が採用している標準ベースのシステム相互接続機能向けLSIを開発している企業

■シノプシス テスト・オートメーション・ビジネスユニット マーケティング・ディレクター Graham Etchells氏のコメント：
「デバッグの迅速化により、特に複雑な初期化シーケンスやスキャン・プロトコルを使用している回路の開発期間を短縮することができます。またTetraMAX ATPGの新しい波形デバッガを使用することで、プロジェクトに大きく影響するテスト容易化設計における問題の原因を迅速に特定し、修正することが可能となります。」
（プレスリリース要約）

※新しいTetraMAXに関する詳細は、日本シノプシスにお問い合わせ下さい。http://www.synopsys.co.jp