米ATI、90nmグラフィック・プロセッサのテスト設計にメンターのDFTツールを適用

2006年6月20日、メンター・グラフィックスは、グラフィック・プロセッサの大手、米ATI社が90nmの新製品のテストにメンターのDFTツール「TestKompress」を適用したことを発表した。

プレスリリース：http://www.mentor.com/company/news/ati_implements_testkompress.cfm（英文）

メンターの「TestKompress」は、あらゆるスキャン・ベースのテスト手法に対応するスキャン・パターンの圧縮ツールで、EDT(embedded deterministic test)と呼ばれる特許技術によって、製造テスト時間とテストデータ量を大幅に削減することが可能。デザインを変更することなく、圧縮されたテストロジックをブロックレベルで挿入するため、設計者はブロックごとに独立したテストを行うことができる。

今回、ATIはメンターの協力の下、機能強化された最新の「TestKompress」を用いて、同社の90nmグラフィック・プロセッサの新チップのテストを実施。余計なテストコストを負担することなく、テストデータとテスト時間の圧縮に成功したという。

※「TestKompress」に関する詳細は、メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社にお問い合わせ下さい。

※ATI社
http://www.ati.com/jp