メンター、テストコストを削減するDFTツール「TestKompress」をバージョンアップ>>新たなGUIでデバッグ効率アップ、分散処理にも対応

2006年11月8日、メンター・グラフィックス社は、スキャン・テストパターン圧縮機能を備えたATPGツール「TestKompress」の新バージョン「TestKompress 2007」を発表した。

プレスリリース： http://www.mentorg.co.jp/news/2006/061108.html

「TestKompress」は、膨大なデータ量となるスキャン・テストパターンをテスト品質を保ったまま劇的に圧縮することができるATPGツールで、同社のATPGツール「FastScan」と同じコマンド及び同じデザインルール チェック（DRC）をサポートしている。

発表によるとバージョンアップされた「TestKompress 2007」は、既存バージョンに対し生産性、パフォーマンス、テスト品質と3つの側面で下記のような大幅な機能強化が施されている。

■生産性：新たなGUI「DFTVisualizer」の提供
階層対応の設計／回路図ビューワ、DFT問題をピンポイントで突き止める波形ビューワ等、強力なデバッグ環境を実現。

■パフォーマンス：ATPG分散技術「ATPG Accelerator」の提供
特別なオプションやライセンスを必要とすることなく、ネットワーク環境上でATPGの分散処理を実現。「FastScan」のユーザも利用可能。

■テスト品質：物理設計対応のブリッジ故障モデルのサポートを追加
同社のイールド解析ツール「Calibre YieldAnalyzer」から出力されるCalibre DFMデータベースの内容から直接情報を取得し、より高精度なテスト結果を生成。設計の物理的特性も考慮し故障検出率を改善する。

尚、今回発表された「TestKompress 2007」同社のATPGツールの新バージョン「FastScan 2007」と合わせて2007年1月1日にリリースされる予定となっている。

※「TestKompress 2007」に関する詳細は、メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社にお問い合わせ下さい。
http://www.mentorg.co.jp