ケイデンスとアドバンテスト、車載用半導体向けテスト手法で協業>>故障率ゼロを目指す

2006年12月6日、ケイデンスとアドバンテストは、車載用半導体向けに、故障率ゼロのテスト手法を提供するためのパートナーシップを発表した。

プレスリリース：http://www.cadence.co.jp/news/h18-12-062.html

両社の協業は、主に車載半導体開発のTAT短縮と品質向上を目的としたもので、両社のテストソリューションを組み合わせて、一貫されたデジタル・デバイス向けのテスト・メソドロジを構築し、故障率ゼロを目指すもの。

具体的には、アドバンテストのATEプラットフォームを使用して、PAT（analog part average testing）と呼ばれるアナログテスト手法と、見落としやすい小さな遅延故障をも検出する、ケイデンスのDFTツール「Encounter True-Time Test」の機能を組み合わせる事によって、新たなテスト・メソドロジを実現する予定だという。
※ATE:Automated Test Equipment　半導体自動検査装置

※「Encounter True-Time Test」に関する詳細は、日本ケイデンス・デザイン・システムズ社にお問い合わせ下さい。
http://www.cadence.co.jp

※株式会社アドバンテスト
http://www.advantest.co.jp