Silicon Image社、Synopsysのスキャン圧縮合成ツールでテスト・コストを95%削減
2010年9月8日、シノプシスは、デジタルI/F LSIを手掛ける米シリコンイメージ社が同社のスキャン圧縮合成ツール「DFT MAX」を採用した事を発表した。
発表によるとシリコンイメージは、マルチメディア向けミックスド・シグナル・チップの開発にシノプシスの「DFT MAX」を適用。「DFT MAX」の新機能「pin-limited」テスト機能を用いる事により、テストに割り当てられるピン数は3つという条件下で僅か2日間でスキャン・ロジックのインプリメントを完了し、テスト時間とテストデータを95%以上削減することに成功した。もちろん高いテストカバレッジを達成したという。
= EDA EXPRESS 菰田 浩 =
(2010.09.09
)