STARCとケイデンス、HiSIMのモデル・パラメータ抽出ソフトの開発で協力
2005年11月30日、STARC(?半導体理工学研究センター)は、次世代のCMOSトランジスタ・モデルの標準候補であるHiSIMのためのモデル・パラメータ抽出ツールの早期実現に向けて、ケイデンスと協力していくことを発表した。
プレスリリース:http://www.starc.jp/about/release/051130-j.pdf
具体的には、STARCは広島大学などの協力を得て、ケイデンスに対しモデル・パラメータ抽出手法の指導や評価用データの提供などを行う。 これに対しケイデンスは、STARCに開発中のHiSIMモデル・パラメータ抽出ツールを提供し、STARCがいち早くツールの評価ができるような環境を提供する。
STARCと広島大学が共同で開発してきたHiSIM(Hiroshima-University STARC IGFET Model)モデルは、現在普及しているBSIMモデルの次世代モデルとして世界的にも注目されており、次世代の標準モデルを選定するCMC(Compact Model Council)と呼ばれる会議(CMC)の最終選考候補に残っている。
STARCは、両社の協力によって、ケイデンスのツールがHiSIMに対応できれば、HiSIMの普及に大きく貢献できるものと期待している。(プレスリリース要約)
※発表に関する詳細はSTARCにお問い合わせ下さい。 http://www.starc.jp
= EDA EXPRESS 菰田 浩 =
(2005.12.01
)