NECとNECエレ、世界最高精度のLSI内クロック信号品質測定技術を開発

2006年2月9日、NECとNECエレクトロニクスは、先端LSIの設計と開発を支援し、LSIの性能向上と信頼性確保に貢献する、世界最高精度のLSI内クロック信号品質測定技術を開発し、その基本実証に成功したと発表した。

発表された新技術は、LSIの微細化と大規模化に伴い、設計時に増加するクロック信号劣化に関するマージンを解消するためのもので、主な特徴は下記2点。

■測定精度を従来比1桁改善し、1ピコ秒という世界最高精度でクロック信号の時間ゆらぎを測定可能。

■LSIを搭載した装置が動作している状態で、装置内のクロック信号の時間揺らぎをリアルタイムに観測し、その結果をデジタル信号で出力可能。

この技術により、クロック信号の品質の劣化予測を正確に行う事が可能となり、微細化のメリットを引き出す次世代LSIを効率良く開発できるようになるという。

尚、この技術は先週サンフランシスコで開催されていた、「ISSCC2006（国際固体回路会議）」にて、両社によって発表が行われた。

= EDA EXPRESS 菰田　浩 =
（2006.02.13 ）