メンターとSTARCがSDQMを使った微小遅延故障の検出を実現

2007年5月10日、メンター・グラッフィクス社は、STARCと共同でSDQMを使った微小遅延故障の検出を実現した事を発表した。※SDQM：Statistical Delay Quality Model

プレスリリース：http://www.mentorg.co.jp/news/2007/070510.html

発表によるとSTARCは、90nm以降のテクノロジ・ノードでより大きな問題となる微小遅延故障をスキャンベースのATPGで検出することを可能にするためSDQMを開発。その後、メンターとの共同開発によってSDQM技術をメンターのATPGツール「TestKompress」と組み合わせて利用できるようにした。これにより、テスト品質の向上とテストコストの削減を合わせて実現できるようになるという。

「TestKompress」は、最小遅延「スラック」を持つ経路をテスト対象とすることによりSDQMを使った微小遅延故障を実行。デザインのSDF（Standard Delay Format）ファイルにアクセスすることで、最も影響の大きいSDQMパスを判定し、テスト対象とされた経路と最も長い経路を比較した統計的指標を示すレポートによって、テストパターン セットの有効性を調べることができる。

※「TestKompress」に関する詳細は、メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社までお問い合わせ下さい。
http://www.mentorg.co.jp

※STARC：株式会社半導体理工学研究センター
http://www.starc.jp