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AtrentaがSpyGlass Platformをバージョン・アップ
2012年12月3日、業界標準ツール「SpyGlass」をはじめとしたRTL解析ソリューションを手掛けるAtrentaは、SpyGlass Platformのバージョン・アップを発表した。
Atrentaによると今回のバージョン・アップは、初めてRTL解析環境「SpyGlass Platform」とチップのプランニング及びアセンブリ環境「GenSys Platform」が同時に改版され、ユーザーのフィードバックを受けてツールのパフォーマンス、解析精度、ユーザビリティなど包括的なツールのエンハンスが実施された。
具体的には、「SpyGlass Platform」において、「GuideWareリファレンス・メソドロジ」の強化、Tclのサポートの強化、CDC解析機能の改善、テスタビリティ解析の速度および精度の改善、配線密集度解析の速度および精度の改善、RTLフィジカル解析機能における先端プロセス・ノードのサポート、RTL 3D ICプランニング・ツールの追加などが行われた。RTL 3D ICプランニング・ツールは、複数顧客と共同で開発しているツールで、今回のバージョンアップに含まれるものは、限定リリース・バージョンとなっている。
また、「GenSys Platform」においては、よりフレキシブルなロジカルおよびフィジカルなポート・マッピング、オート・コネクト機能の改善、RTLヘルス・チェック・レポートの強化などが実現された。
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