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Mentorが富士通セミによる「Tessent YieldInsight」の評価結果を発表
2011年3月22日、Mentor Graphicsは、富士通セミコンダクターによる同社の歩留まり解析ツール「Tessent YieldInsight」の評価結果を発表した。
発表によると、富士通セミコンダクターは、Mentorの歩留まり解析ツール「Tessent YieldInsight」を65nmプロセスで製造した1500万ゲートのデザインで評価し、歩留まり低下の原因追求の時間短縮効果を確認。評価はMentorのテスト圧縮合成ツール「Tessent TestKompress」と合わせて実施され、幾つかの故障箇所を短時間で正確に特定できたという。
「Tessent YieldInsight」は、製造テストの結果とデザインの物理的情報を相関して歩留まり低下のメカニズムを短時間で絞り込むツールで、直感的なGUIで効果的にシステマティック欠陥の原因を特定できる。
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