2009年3月25日、半導体テスト工程におけるエンジニアリングサービスを中心に、ATE分野の製造装置やデバイス試験装置の機構部品などを手掛けるセルコンテクノロジーは、同社の研究開発がNEDO平成20年度補正イノベーション推進事業に採択されたことを発表した。
今回NEDOの助成事業に採択されたセルコンテクノロジーの「マスク検査装置用大規模画像データ処理機構の開発」は、マスク製造コストを削減し半導体デバイスのコストダウンを目指すもので、具体的には、処理データが幾何級数的に増大し、データ処理機構の巨大化がコスト増の一因となっている現在のマスク検査に向け、フラッシュメモリを利用した単純・小規模化した安価なデータ処理機構を開発。データ処理機構の柔軟なシステム構成を可能にすることでマスク製造コストを削減し、半導体デバイスのコストダウンを実現する。
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