NEWS

 
SIEMENS
s2c
 

【EDSFレポート】SystemJDのテスト設計用ツール「STILAccess」を国内大手が採用

Electronics Design and Solution Fair 2009に出展していたシステム・ジェイディーのブースレポート。

システムJDでは昨年に引き続きテストパターン変換ツール「STILAccess」を展示。同製品はテストパターン記述言語「STIL」の構文を解析するライブラリで、STIL関連プログラムの開発を効率化するもの。

edsf2009_SystemJD-01.jpgシステムJDの伊達社長に聞いたところ、国内大手半導体ベンダによる「STILAccess」の採用が決定し、この2月から本格導入の予定。半導体メーカーの内製ツール一部として、メーカー独自のハード的なテスト指標を考慮したSTIL変換を実現するという。

edsf2009_SystemJD-02.jpgシステムJDは、自社のテスト設計ショリューションを半導体メーカーの要望に応じてカスタム提供しており、今回導入したメーカーに対しては「STILAccess」と合わせて汎用品が存在しない「STIL言語専用エディタ」を開発して納入。このエディタは、今後製品化して販売する計画と聞いた。

伊達氏によると、ビジネスは順調で、現在は九州大学らと動的再構成デバイスをターゲットとしたテストシステムの開発にも取り組んでいるとの事だった。

株式会社システム・ジェイディー

= EDA EXPRESS 菰田 浩 =

(2009/01/24 )

 

ページの先頭へ