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アンソフト、パッケージ/基板向け解析ツール「SIwave」をバージョンアップ>>IRドロップ解析と近傍電磁界表示機能を追加
2007年10月22日、電磁界解析ツール大手の米アンソフトは、パッケージ/基板向け解析ツール「SIwave」バージョン3.5のリリースを発表した。
プレスリリース：http://www.ansoft.co.jp/index.php?pid=D6xyF
「SIwave」は、、高速プリント基板やICパッケージ向けのフル・ウエーブ電磁界シミュレータとして提供されている製品でICパッケージのシグナルインテグリティ、パワーインテグリティ、電磁妨害（EMI）解析用に最適化されている。
アンソフトによると新たしい「SIwave v3.5」には、新機能としてIRドロップ解析と近傍電磁界表示機能が追加され、複雑な電源・グランドのDC電圧降下／電流密度（ベクトル）の解析や従来からの遠方電磁界解析機能と合わせた仮想EMI試験が可能になったほか、パラメータ抽出機能についてもCausality（因果律）/Passivity（受動性）に則した解析が可能となり、メモリーI/FのSSNシミュレーションなどの過渡解析に最適なモデルを抽出できるようになった。
また、その他にも64bits OSへの完全対応、近傍|E|、|H|場のビジュアル化、3D電磁界解析ツール（HFSS）との連携改善など、今回リリースされた「SIwave v3.5」ではメジャーバージョンアップ並の機能追加が行われているという。
※「SIwave v3.5」に関する詳細は、アンソフト・ジャパン株式会社にお問い合わせ下さい。
http://www.ansoft.co.jp/
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