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メンター、65/45nm設計向けの新たなテストパターン圧縮技術を発表>>ATPGツール「TestKompress」に搭載

2007年10月2日、メンター・グラフィックスは、65/45nm設計向けの新たなテストパターン圧縮技術「Xpress」を発表した。

プレスリリース：http://www.mentorg.co.jp/news/2007/071002.html

発表された「Xpress」技術は、65/45nmプロセスで製造される先端チップのテストニーズに応えるために開発された特許技術で、ATPGツール「TestKompress」に内蔵され100倍以上のデータ圧縮を実現。製造テスト時に発生することのある未知の「Xステート」を効率的に処理することでテストパターンをより小さく、高度に圧縮することができる。

メンターは発表の中で「2008年までに200倍のテストデータ・ボリューム圧縮が必要となる」という「ITRS」の予測示し、製造テストにおけるテストパターンの圧縮技術の重要性を強調。業界でいち早くテスト圧縮ツールを開発した同分野のパイオニアとして、圧縮技術をさらに進化させていく予定としている。
※ITRS：International Technology Roadmap for Semiconductors

尚、新技術「Xpress」を内蔵した「TestKompress Xpress」は、現在ベータ評価版が提供されており、2007年11月に正式リリースされる予定。

※「TestKompress Xpress」に関する詳細は、メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社にお問い合わせ下さい。
http://www.mentorg.co.jp

 

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