2007年1月31日、シノプシスは、寄贈を申し出ていたプロセスや温度のバラツキを考慮したSPEF(Standard Parasitic Exchange Format)拡張機能がIEEE1481ワーキング・グループによって承認されたことを発表した。
プレスリリース:http://www.synopsys.co.jp/pressrelease/2007/20070131.html
今回シノプシスが提供したのは、65nm以降のプロセス向け設計で必須となる、バラツキを考慮した内部配線寄生容量情報を高精度かつ簡潔に表現するための主要な拡張機能である。この機能拡張のドラフト案は既にIEEE1481のワーキンググループに承認され、現在IEEE標準化委員会の承認を待つ段階となっている。
デバイスの微細化に伴い、内部配線を行うためには、ランダムに発生するプロセスのバラツキを高い精度でモデリングする「統計的モデリング手法」が必要となるが、そのためには物理的・電気的なプロセス・パラメータに対応して内部配線の寄生容量バラツキを考慮しなければならない。
今回シノプシスが提案した機能拡張によって、SPEFフォーマットでバラツキを考慮した寄生情報を扱う事が可能となり、寄生抽出ツールは、内部配線のプロセス・パラメータベースの寄生容量値とバラツキ値を持つネットリストを生成することができるようになるという。
※SPEFの機能拡張に関する詳細は、日本シノプシス株式会社にお問い合わせ下さい。
http://www.synopsys.co.jp
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