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三洋半導体、シノプシスのテストデータ圧縮ツール「DFT MAX」を採用>>今後全てのLSI設計に使用

2006年11月22日、シノプシスは、三洋半導体株式会社がシノプシスのテストデータ圧縮合成ツール「DFT MAX」を採用し、同ツールのスキャン回路自動圧縮機能を用いて、デジタルLSI設計のテスト品質を大幅に向上したことを発表した。

プレスリリース：http://www.synopsys.co.jp/pressrelease/2006/20061121.html

「DFT MAX」は、テストデータの生成と圧縮をワンパスで実行するテスト設計ツールで、プッシュボタン方式でテストデータ量を1/10?1/50に圧縮する事ができる。

発表によると三洋では、テスト品質の向上に向け、効率的なテストデータの圧縮とテスト回路の容易なインプリメトを両立できるソリューションを切望。それらの要望を満たしてくれるシノプシスの「DFT MAX」を採用するに至った。

実際に「DFT MAX」を用いたところ、テストデータ・ボリュームを90%以上削減することに成功し、高いテスト設計の品質向上目標を短期間で達成。三洋では、その成果の大きさを実感し、今後の全てのLSI設計に「DFT MAX」を使用していくことに決めたという。

※「DFT MAX」に関する詳細は、日本シノプシス株式会社にお問い合わせ下さい。
http://www.synopsys.co.jp

※三洋半導体株式会社
http://www.semic.sanyo.co.jp

 

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