第43回DAC出展企業レポート(続報):米Synopsys社
Synopsys社は、DACに合わせて新製品イールド解析ツール「PrimeYield」を発表。その他、6月にリリースしたばかりの配置配線ツール「IC Compiler」の最新バージョンや、スタティックタイミング解析ツール「PrimeTime」とRC抽出ツール「Star-RCXT」の機能拡張製品を展示。巨大なブースには人だかりができていた。
関連プレスリリース:
http://www.synopsys.co.jp/pressrelease/2006/20060724-2.html(PrimeYield)
http://www.synopsys.co.jp/pressrelease/2006/20060626.html(IC Compiler)
http://www.synopsys.co.jp/pressrelease/2006/20060724.html(PrimeTime&Star-RCXT)
シノプシスの新製品「PrimeYield」は、65nm以降のプロセス・テクノロジ・ノードに向けて開発されたDFMツールで、テープアウト完了前にチップの製造性に影響を及ぼしそうなデザイン・パターンを解析することが可能。下記大きく3つの機能モジュールで構成されている。
■LCC(Lithography Compliance Checking):
デザインで発生しうるリソグラフィ欠陥とプロセス・バリエーションの影響を設計工程のより早い段階で設計者に警告
■モデルベースCMP:
先進のチップ設計においてシステマティック欠陥の主な原因となるメタルフィルのへこみを特定し解析
■CAA(Critical Area Analysis):
デザイン・レイアウトの中でイールド・ロスを発生させる危険性の高いクリティカル・エリアを解析し改善する
この「PrimeYield」は、シノプシスの「IC Compiler」や「Star-RCXT」など各インプリメンテーションツールにタイトにリンクされており、設計者はイールドの解析結果をもとに問題点の自動修正を行い、高精度な奇生容量抽出を実行可能。効率良く65nm以降のイールド最適化を実現することができるという。
またシノプシスは、業界のデファクトとなっているスタティックタイミング解析ツール「PrimeTime」とRC抽出ツール「Star-RCXT」に、それぞれ新たにスタティスティカル・タイミング解析機能を追加し、新製品「PrimeTime VX」、「Star-RCXT VX」としてリリース。これらツールによって、65nm以降のプロセス・テクノロジ・ノードのデバイス素子や内部配線上で発生する様々なバリエーションによって引き起こされる設計上の不確定要因への対処が可能になるとしている。
※シノプシスの各新製品に関する詳細は、日本シノプシス株式会社にお問い合わせ下さい。
http://www.synopsys.co.jp
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