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ケイデンス、テスト設計ツール「Cadence Encounter Test」のデータ圧縮機能と故障診断機能を強化

2006年7月13日、ケイデンスは、テスト設計ツール「Cadence Encounter Test」の新しいテスト・データ圧縮機能と故障診断機能を発表した。

プレスリリース：http://www.cadence.co.jp/news/h18-07-13.html

「Encounter Test」は、IBM社のテスト技術をベースとしたRTLからシリコンまでをカバーするテストおよびテスト容易化設計環境で、既に10000を超えるチップで実績を上げている。

新しい「Encounter Test」は、新たなデータ圧縮技術により、スキャン入力側にXOR ファンアウトを、スキャン出力側にx-stateマスク機能付のXORコンパクション部分を持つような、XORベースのテスト・データ圧縮に対応可能となった事に加え、故障診断機能を拡張し、ロジックの故障追跡だけでなく、歩留まり低下の原因となっているフィジカル上の問題の追跡も可能となった。

「Encounter Test」これら新機能の追加により、高いテスト・カバレッジと低いテスト・コストを実現。フィジカル上の問題の故障分析に関する工数を大幅に削減することができるという。

尚、「Encounter Test」の新しい圧縮機能は、複数のベンダーによって提供されているATPGおよび故障診断用ツール間の相互運用を可能としており、故障診断フローへの単一のパスを提供。その機能と運用における利便性が評価され、Test & Measurement World 2005 にて「Best in Test Award」を受賞している。

※「Cadence Encounter Test」に関する詳細は、日本ケイデンス・デザイン・システムズ社にお問い合わせ下さい。
http://www.cadence.co.jp

 

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