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メンターとSTARCが新たな遅延テスト手法の共同開発に合意

2006年1月25日、メンター・グラフィックス社とSTARC（株式会社半導体理工学研究センター）は、ナノメータ設計のための新しいアットスピード遅延テスト手法の共同開発に合意したことを発表した。

プレスリリース：http://www.mentorg.co.jp/news/2006/060125.html（メンター）

この共同開発は、製造テストでの微小な遅延欠陥の検出を改善することによって、チップの品質レベルを上げることを目的としており、具体的には、技術革新の進むアットスピード・テストパターン生成技術をメンターとSTARCで共同開発し、新たな技術をメンターのATPG（Automatic Test Pattern Generation）テストツールに取り込むというもの。

この共同開発によって、STARCとそのクライアント企業が求める微小遅延検出要件に対応し、テストされたチップに最高の品質を保証することを狙う。

※メンター・グラフィックス社
http://www.mentorg.co.jp/index.html
※STARC　
http://www.starc.jp/index-j.html

 

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