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STARCとケイデンス、HiSIMのモデル・パラメータ抽出ソフトの開発で協力

2005年11月30日、STARC（?半導体理工学研究センター）は、次世代のCMOSトランジスタ・モデルの標準候補であるHiSIMのためのモデル・パラメータ抽出ツールの早期実現に向けて、ケイデンスと協力していくことを発表した。

プレスリリース：http://www.starc.jp/about/release/051130-j.pdf

具体的には、STARCは広島大学などの協力を得て、ケイデンスに対しモデル・パラメータ抽出手法の指導や評価用データの提供などを行う。　これに対しケイデンスは、STARCに開発中のHiSIMモデル・パラメータ抽出ツールを提供し、STARCがいち早くツールの評価ができるような環境を提供する。

STARCと広島大学が共同で開発してきたHiSIM（Hiroshima-University STARC IGFET Model）モデルは、現在普及しているBSIMモデルの次世代モデルとして世界的にも注目されており、次世代の標準モデルを選定するCMC（Compact Model Council）と呼ばれる会議（CMC）の最終選考候補に残っている。

STARCは、両社の協力によって、ケイデンスのツールがHiSIMに対応できれば、HiSIMの普及に大きく貢献できるものと期待している。（プレスリリース要約）

※発表に関する詳細はSTARCにお問い合わせ下さい。　http://www.starc.jp

 

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