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メンター、歩留まり向上のための故障診断ツールYieldAssistをリリース

2005年11月1日、メンター・グラフィックス社は、歩留まり向上のための故障診断ツール「YieldAssist」をリリースした。

プレスリリース：http://www.mentorg.co.jp/news/2005/051101.html

YieldAssistは、歩留まり低下の原因となる欠陥を迅速かつ正確に発見、切り分ける機能を持ち、半導体製造工程の歩留まりを向上し、メンターのDFT（Design-for-Test）製品ポートフォリオならびにプラットフォームを従来のテスト生成と欠陥検出の範囲を超えて大きく拡張する製品で、主な特徴は以下の通り。

■故障解析と歩留まり向上を効率的に実行：
故障情報をテスタから取り込み、システマチック／ランダムな欠陥の両方を見つけ出し、歩留まりを効率的に向上させマニュアルでの解析作業を解消する。

■従来製品をベースに総合的に歩留まり改善をカバー：
?ATPGツールTestKompress あるいはFastScanツールのテスト結果から故障の原因を切り分け、欠陥の疑われる個所を特定。

?欠陥の疑われる箇所をCalibre RVE によって物理設計レイアウト・ビューで確認し、問題の原因がどの物理的なパターンにあるかを確認。

?TestKompressで生成される圧縮されたテストパターンから故障ログを直接読み取り、大容量データを高速に診断。

メンター Design Verification and Test Division、Vice President and General Manager Robert Hum氏のコメント：
「故障解析は、優れたツールを使用することで大きな効果が得られる分野であり、成長市場です。欠陥の疑いをより細かく切り分け、これらをすばやく物理設計にリンクして解析を行うことのできる診断ツールに対する根強いニーズが存在します。YieldAssistはDFT技術の飛躍的進歩であり、半導体故障解析を劇的に高速化するとともに、歩留まり習熟と歩留まり監視にとってきわめて重要な役割を果たすものです。」（プレスリリース要約）

 

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